X-RAY检测设备在芯片缺陷检测上的运用

芯片是集成电路的载体，由晶圆切分而成，我们使用的智能机、笔记本、智能电视、小车、中央空调中均有电源芯片的足迹，电源芯片做为这款集成度高，构造高精密的电子元件，一般检验方式太难立竿见影，通常是运用X-RAY检测设备对电源芯片开展透視检验的。

芯片X-RAY检测设备关键是运用的X光检查机中产生的X射线照射芯片内部结构，x光线的穿透性很强，可以透过芯片后成像，芯片构造破裂状况尽收眼底，应用X光对芯片检验的最关键特性是对芯片自身沒有损害，因而这类检验方法也叫无损探伤。

芯片X-RAY检测设备采用X光透射原理，对被测物结构图采取即时摄像检验。市场应用于充电电池、SMT、LED、电子产品加工和铸件加工等行业，关键商品内部结构缺点进行实效分析，使客户还可以轻轻松松得到高品质、高变大倍数、高像素的图。